Базовая длина lp, lr, lw (sampling length) - это длина в направле­нии оси Х, используемая для идентификации неровностей, которые характеризуют оцениваемый профиль. Нормирование базовой длины подразумевает, что элементы профиля слишком большой длины при оценке поверхности не учитываются. Базовая длина lr для профиля шероховатости и базовая длина lw для профиля волнистости численно равны длине волны фильтров профиля λс и λf, соответственно. Базовая длина исходного профиля lp равна длине оценки.

Источник определения – А. Н. Табенкин, С. Б. Тарасов, С. Н. Степанов "Текстура поверхности и ее измерение. Шероховатость, волнистость, профиль, топография".