Базовая длина lp, lr, lw (sampling length)

Базовая длина lp, lr, lw (sampling length)

Базовая длина lp, lr, lw (sampling length) - это длина в направле­нии оси Х, используемая для идентификации неровностей, которые характеризуют оцениваемый профиль. Нормирование базовой длины подразумевает, что элементы профиля слишком большой длины при оценке поверхности не учитываются. Базовая длина lr для профиля шероховатости и базовая длина lw для профиля волнистости численно равны длине волны фильтров профиля λс и λf, соответственно. Базовая длина исходного профиля lp равна длине оценки.

Источник определения – А. Н. Табенкин, С. Б. Тарасов, С. Н. Степанов "Текстура поверхности и ее измерение. Шероховатость, волнистость, профиль, топография".

Заполните одно поле для
получения пароля

Введите пароль

Регистрация

Укажите ваш e-mail и пароль

E-mail
Телефон
Пароль
Подтвердите пароль

Уже есть аккаунт?

Реквизиты юр. лица

Забыли пароль?

Введите e-mail для восстановления

E-mail

Вспомниили пароль?

Добавить организацию

Добавить БИК

Наверх
Товар добавлен в заказ
Остаться на странице