Микроскоп зондовый сканирующий NTEGRA Spectra

NTEGRA Spectra — это уникальный гибридный прибор, который объединяет возможности атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии, поддерживая более 40 режимов АСМ. Он даёт исчерпывающую информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением — от топографии и жёсткости до проводимости, намагниченности, пьезоотклика и поверхностного потенциала. При этом измерительная головка легко адаптируется под различные типы зондовых датчиков, расширяя спектр решаемых задач.

NTEGRA Spectra в базовом варианте представляет собой конфокальный лазерный, рамановский и фотолюминесцентный микроскоп. Прибор обеспечивает визуализацию образца, фокусировку возбуждающего лазера на образец и сбор излучения эмиссии от образца. В микрорежиме съемка с картированием может осуществляться перемещением образца и/или перемещением фокуса лазера посредством гальванозеркал.

NTEGRA Spectra в расширенном варианте «зондовая микроскопия + оптическая микроспектроскопия» позволяет проводить измерения по отдельности методами СЗМ, конфокальной микроскопии, рамановской и фотолюминесцентной микроспектроскопии, а также исследовать один и тот же образец комбинированно и одновременно вышеуказанными методами, со сканированием образцом и/или зондом и/или фокусом лазера, с построением колокализованных карт любых собираемых сигналов, поточечно привязанных друг к другу.

Сферы применения:

• Исследование графена, углеродных нанотрубок и других углеродных материалов;
• Полупроводники;
• Нанотрубки, нанопроволоки, квантовые точки и другие наноматериалы;
• Полимеры;
• Определение характеристик оптических устройств: полупроводниковые лазеры, оптоволокно, волноводы, устройства плазмоники;
• Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов
• Контроль химических реакций.

Специализация:

• Сканирующая зондовая микроскопия (более 40 методов);
• Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия;
• Конфокальная рамановская микроскопия;
• Конфокальный флуоресцентный анализ – изображение и спектроскопия;
• Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ);
• Зондово-усиленная рамановская/флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEPL);
• Контролируемые условия измерений (температура, жидкость, электрохимическая среда).