Микроскоп зондовый сканирующий NTEGRA MFM

Ключевая особенность специализированного прибора NTEGRA MFM — использование немагнитных материалов в большинстве деталей измерительной головки и сменного основания. Это исключает нежелательное смещение зонда при изменениях внешнего магнитного поля и гарантирует достоверность результатов.

Для создания магнитного поля в NTEGRA MFM применяется постоянный магнит, а регулировка напряжённости осуществляется его поворотом. Такое решение с вращающимся постоянным магнитом имеет ряд важных преимуществ перед электромагнитами и соленоидами: отсутствие тепловыделения, термодрейфа образца и механических вибраций от охлаждающей жидкости. Кроме того, конструкция отличается компактностью и малым весом. Генератор поля построен на базе магнита из сплава NdFeB и магнитопроводов из пермендюра, причём геометрия узла продумана так, что в пределах одного держателя образца доступны зоны как с продольным, так и с поперечным полем. Это позволяет проводить измерения в нужной ориентации поля, просто меняя положение образца на подложке. Датчик Холла для контроля поля размещён непосредственно под образцом, между магнитопроводами.

Применение

• Доменные структуры твердых и мягких магнитных материалов;
• Магнитные пленки;
• Магнитные микро- и наноструктуры;
• Устройства хранения данных;
• Устройства спинтроники.

Специализация

• Поляризационный Магнитооптический Микроскоп, совмещенный с СЗМ;
• Двулучевой балансный поляриметр;
• Продольное и поперечное внешнее магнитное поле;
• Статическая и динамическая МСМ, а также однопроходные и двухпроходные методы.